量测设备

落地式全自动影像仪

AVM-C
特点
整机一体化人机工程设计,方便操作测量。
具有快速自动对焦,自动寻边,自动测量功能,大大提高检验效率。
可选配自动变倍功能,无需图元校正,实现多倍率下高效测量。
自主开发软体,可满足客户不同测量需求。
采用亚图元细分技术,提高边界分辨能力。
配置操纵手柄,亦可软体程式控制。
SPC资料处理分析,大批量治具测量。
X、Y、Z三轴伺服控制,定位精度高速度快,运行平稳。
采用自主开发的嵌入式模组控制系统,将复杂的控制系统集成于仪器内部,稳定性更高。
程式控制恒流驱动式八区表面冷光光源,可适应复杂的工件测量。
可通过镭射指示,器寻找被测工件的具体位置,快速定位,方便快捷。

描述

该仪器适用于以二维测量为主要目的的应用. 也可做为三维辅助测量。在机械、电子、仪表、塑胶等行业 被广泛应用
※可選配自動變倍鏡頭、同軸光鏡頭、鐳射位移器、簡易測頭、白光納米檢測模組
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规格表

仪器型号 AVM-5040C
工作台 金属台尺寸(mm) 786*636
玻璃台尺寸(mm) 570*470
运动行程(mm) 470*370
X、Y、Z、轴数显分辨力 0.5μm
示值误差 E1XY=(2.5+L/100)
外型尺寸(长*宽*高)mm 1200*1270*1870
仪器重量(KG) 850
Z轴升降行程 200mm(可订购至400mm)
影像系統
  • 摄影机:1/2n彩色CCD摄像机
  • 变倍镜头倍率:0.7X~4.5X
  • 摄频总倍率:23.5X~148X
  • 物方视场:11.1mm~1.7mm
电源 AC 100~240V
功率 400W(不含电脑)

※实际规格以出货为准※
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