矽光子封裝

老化測試設備

LQ-BI0704
特點
7 個獨立控溫層 × 每層 4 個抽屜，可同時多工測試
每個夾具具備獨立溫控（40°C–125°C），穩定性 ≤0.5°C
內建 LIV 測試功能，支援光功率與電流特性分析
控制軟體支援自定義測試程式與資料備份
具備 MES 通訊介面，可整合至自動化產線
抽屜模組化設計，維護與擴充方便
高可靠性硬體架構，確保長時間連續運行

描述

LQ-BI0704 老化測試設備專為 高功率半導體雷射器件 的老化與壽命測試而設計。
整機採用 7 層獨立控溫結構，每層配置 4 個抽屜式測試載具，可同時執行多種獨立測試。
每個夾具皆可 單獨控制溫度（40°C–125°C），並具備 ±0.5°C 的穩定性與 ±1°C 的精度。
系統內建 LIV 測試功能，可進行光功率與電流特性分析。
搭配 獨立開發的控制軟體，使用者可自由設定測試參數，支援 MES 通訊、資料記錄與備份功能，
廣泛應用於雷射模組與光電元件之老化與壽命測試。
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規格
溫度控制 控溫範圍 40°C ～ 125°C（每夾具獨立控制）
控溫分辨率 ±0.1°C
溫度均勻度		 ±1°C @ 40–100°C；±1.5°C @ 100–125°C
溫度穩定性		 ≤0.5°C
溫度精度 ≤1°C
LIV 測試 測試通道數
32 通道 LIV 測試
測試樣品類型 高功率半導體雷射（LD / EEL / VCSEL）
光功率測試範圍 0–100 mW
波長範圍 850–1600 nm
驅動控制 驅動電流範圍 0–500 mA（每通道獨立控制）
電流精度 ±0.2%
電壓範圍 0–4 V
LIV 測試模組 測試模式
ACC / LIV（自動掃描）
光功率穩定性 ±1% F.S.
機構特性 尺寸 / 重量 約 W 1600 × D 1200 × H 1800 mm；約 2000 kg
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